Ang karaniwang ginagamit na mga instrumento sa pagtuklas para sa pagsusuri ng komposisyon ngmga nanomaterialisama ang:
1. ICP (Inductively Coupled Plasma): Ang ICP ay isang teknolohiyang malawakang ginagamit sa mga larangan ng analytical chemistry at agham ng materyales. Maaari itong magamit upang matukoy ang nilalaman at komposisyon ng mga elemento sa mga nanomaterial. Sa pamamagitan ng pag-convert ng sample sa mga gaseous ions at paggamit ng nabuong plasma spectrum upang matukoy ang konsentrasyon ng mga elemento. Pinagsasama ng ICP-MS (Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer) ang ICP at mass spectrometry techniques upang suriin ang napakababang konsentrasyon ng mga elemento sa mga nanomaterial.
2. XRF (X-ray Fluoroscopy): Ang XRF ay isang malawakang ginagamit na teknolohiya para sa pagsusuri ng materyal at hindi mapanirang pagsubok. Tinutukoy nito ang komposisyon ng mga elemento sa pamamagitan ng pag-irradiate sa ibabaw o loob ng sample gamit ang X-ray at pagsukat ng fluorescence radiation ng mga katangian ng elemento sa sample. Ang XRF ay angkop para sa isang hanay ng mga nanomaterial, kabilang ang solid, likido, at mga sample ng pulbos.
3. EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy): Ang EDS ay isang electron microscopy technique na tumutukoy sa komposisyon ng mga elemento sa isang sample sa pamamagitan ng pagsukat sa mga X-ray na nabuo ng interaksyon sa pagitan ng electron beam at sample sa materyal. Ang EDS ay kadalasang ginagamit kasabay ng pag-scan ng electron microscopy (SEM) upang magbigay ng pagsusuri sa komposisyon sa ibabaw ng mga nanomaterial.
