China solusyon ng graphene oxide Mga Manufacturer, Supplier, Factory

Ang Scanning Electron Microscope (SEM) ay isang high-resolution na diskarte sa characterization at analysis na gumagamit ng nakatutok na electron beam para i-scan ang surface ng sample point by point, excite secondary electron SE, backscattered electron BSE, mga katangian ng X-ray at iba pang signal, at imahen ang mga ito, sa gayon ay nakakamit ang microstructure, chemical composition at microstructure ng sample surface. Ang artikulong ito ay maikling magpapakilala ng mga karaniwang problema sa proseso ng pagsubok ng SEM, ang mga sanhi nito, at mga kaukulang solusyon:

Infrared Spectroscopy: Tinitingnan kung gaano karaming ilaw ang natupok. Kapag ang isang molekula ay sumisipsip ng ilaw ng isang tiyak na haba ng haba, alam namin kung anong mga functional na grupo ang nasa loob nito. Raman Spectroscopy: Tinitingnan kung gaano karaming ilaw ang na -deflect. Ang isang laser beam ay inilalapat upang pag -aralan kung gaano nagbago ang ilaw na nagbalik, upang matukoy ang istrukturang molekular.

Ang nanotechnology ay lalong nagiging mahalaga sa maraming larangan, mula sa medisina hanggang sa electronics. Ang mga nanomaterial, kabilang ang mga nanoparticle, nanotubes, at nanowires, ay mahahalagang bahagi ng maraming aplikasyon ng nanotechnology. Ang paggawa ng mga materyales na ito ay nangangailangan ng mga dalubhasang pamamaraan, tulad ng mga wet at dry na pamamaraan. Sa artikulong ito, tutuklasin natin kung ano ang mga dry at wet na pamamaraan, ang mga benepisyo nito, at kung paano nagbibigay ang SAT NANO ng mga de-kalidad na nanomaterial.

Ang mga silver nanoparticle (AgNPs) ay malawakang ginamit bilang isang potent reagent upang mapahusay ang Raman scattering ng surface-enhanced Raman spectroscopy (SERS) dahil sa kanilang mahusay na katatagan at pagpapahusay ng mga katangian. Sa isang kamakailang publikasyon ng Nano Convergence, isang mas eco-friendly at mahusay na paraan ng in-situ na pagmamanupaktura ng mga substrate ng SERS na may mga AgNP ang naiulat.

Ang pag -scan ng mikroskopya ng elektron ay maaaring nahahati sa uri ng paglabas ng thermal electron at uri ng paglabas ng patlang ayon sa iba't ibang paraan ng henerasyon ng elektron. Ang filament na ginamit para sa uri ng paglabas ng thermal electron ay pangunahing tungsten filament mikroskopya. Uri ng paglabas ng patlang Ang pagkakaiba sa pagitan ng paglabas ng mainit na patlang at paglabas ng malamig na patlang.

Ang thermal conductive filler ay isang functional na materyal na idinagdag sa mga materyales sa matrix tulad ng plastik, goma, adhesives, atbp upang mapagbuti ang kanilang thermal conductivity. Malaki ang pinapabuti nila ang kahusayan ng thermal conductivity ng mga pinagsama -samang materyales sa pamamagitan ng pagbuo ng mga landas ng thermal conduction o network, at malawakang ginagamit sa elektronikong aparato ng pag -iwas, pag -iilaw ng LED, pag -iimbak ng enerhiya, aerospace at iba pang mga patlang.